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徕卡清洁度解决方案:快速识别污染源

2019/03/13

徕卡清洁度解决方案:快速识别污染源

在清洁度分析过程中,必须尽可能快地找出污染源。徕卡显微系统推出的清洁度专家解决方案现可为您提供更深入的颗粒物分析。它不仅能对颗粒物执行自动检测、计数、分析和分类 (按照其导致损害的危险度),还能同时确定颗粒物的成分。如今,您在搜寻污染源时可节省 90% 的时间。此外,您可在同一工作场所完成全部分析。

这样有什么意义呢?

您可在数秒钟内掌握所有相关信息,找出影响产品性能和寿命的颗粒物的来源。您可更快地消除这些颗粒物,以符合日趋严格的 VDA 19 和 ISO 标准。在定位颗粒物来源上节省时间也能促成更具经济效益的清洁度分析。

那如何实现这一目标呢?

将显微技术与激光光谱技术相结合。运行徕卡清洁度专家软件的 DM6 M 显微镜中集成了 LIBS (激光诱导击穿光谱) 系统。这种二合一解决方案允许您使用同一台仪器执行视觉和化学分析。
由此,您可将清洁度分析流程缩减为一步,并避免使用电子显微镜 (SEM/EDS) 等手段执行代价高昂的下游分析。

全新徕卡清洁度解决方案带给您的优势:

  • 利用快捷的化学分析更快地找出污染源

  • 在内部完成所有步骤,省时省钱

  • 尽量减少甚至不用 SEM/EDS 进行深入分析
    - 无需额外的滤片样品制备或转移到其它设备
    - 无需重新定位感兴趣区域或调节系统


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