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新型超级微球高分辨显微镜助力芯片检测行业

2018/12/13

英国LIG Nanowise新型超级微球高分辨显微突破了光学限制,其专利微球成像技术(SMAL)使超级微球高分辨显微镜的横向分辨率达到50nm。通过SMAL成像技术,用户可以在纯光学光源的条件下快速观测到简洁、无损、完整、具有全真色彩的图像。

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超级微球高分辨显微镜成功入驻银行卡检测中心BCTC,为用户实现直接、快速、高效的芯片检测。

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用户测试报告


超级微球高分辨显微镜凭借其自身不仅可以在室温下工作且样品不用特殊制备外,还可以在自然光下呈现50nm分辨率真实色彩图像的特点,帮助客户解决全线检测问题,更好地检测芯片内部结构。


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